• 0.1um 薄膜测厚仪

    详细信息

     品牌:赛成仪器  加工定制:是  型号:CHY-01  
     类型:薄膜  测量范围:0~2 mm mm 显示方式:数字显示  
     电源电压:220 V 外形尺寸:461 (L)× 334 (W)× 357 (H mm  
     
     
        厚度是一个材料的基本性能之一,厚度是否均匀会影响材料的阻隔性能(透湿透氧等)、物理机械性能(拉伸、撕裂、热封、收缩率等)、印刷质量等。

        0.1um 薄膜测厚仪 采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

    关键词:接触式测厚,压力测厚,高精度测厚仪,0.1μm测厚仪,测厚仪

    0.1um 薄膜测厚仪 专业技术
    严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
    测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
    支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
    系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
    实时显示测量结果的***大值、***小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
    配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
    系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
    系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
    标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据
    测试标准 该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817 

    0.1um 薄膜测厚仪 技术指标 
    测试范围 0~2 mm(常规) 0~6 mm;12 mm(可选) 
    分辨率 0.1 μm 
    测量速度 10 次/min (可调) 
    测试压力 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张) 
    接触面积 50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
    注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 
    进样步距 0~1000 mm 
    进样速度 0.1~99.9 mm/s 
    电源 AC 220V 50Hz 
    外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H) 
    净重 32 kg 

    产品配置 标准配置:主机、标准量块一件专业软件、通信电缆、测量头
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