• 氧化诱导周期 氧化诱导时间 熔点 差示扫描量热仪

    详细信息

     品牌:天成检测  型号:TC3530  加工定制:否  
     外形尺寸:500*400*340 mm 重量:30 ㎏ 产品用途:氧化诱导周期 熔点  
    产品介绍:
    差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
    技术参数
    1. 温度范围: 室温~1150℃ 
    2. 量程范围: 0~±2000μV 
    3. DTA精度: ±0.1μV 
    4. 升温速率: 1~60℃/min 
    5. 温度分辨率: 0.1℃ 
    6. 温度准确度: ±0.1℃ 
    7. 温度重复性: ±0.1℃ 
    8. 温度控制: 升温:程序控制     可根据需要进行参数的调整
                 降温:风冷 程序控制 *可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统
                 恒温:程序控制     恒温时间任意设定
    9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
    10. 气氛控制: (选配)气体流量计,气氛转换装置
    11. 数据接口: RS-232串口通讯  配套数据线和操作软件
    12. 主机显示: 汉字大屏液晶显示 蓝底白字
    13. 参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正
    14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
    15. 工作电源: AC 220V  50Hz
     
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