• ST-50A型冲击试样缺口投影仪

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                                  ST-50A型冲击试样缺口投影仪 ST-50A型冲击试样缺口投影仪是一种专用检查仪,利用光学投影方法,将被测件U型或V型轮廓放大投影到投影屏上,能高效率高精度的检测各种形状复杂的零件的轮廓和表面形状。对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格,(试样缺口深2mm,呈45度角试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm),故在整个试验过程中,试样的V型缺口加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是R0.25mm缺口尖端的微小变化(其公差只有0.25mm),都会引起试验结果的陡跳,尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为了保证加工出的夏比V型缺口合格,缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。目前用光学投影仪放大检查是唯一切实可行并能保证检验质量的方法。
      ST-50A型冲击试样缺口投影仪,是根据GB/T229—2007中对冲击试样缺口的要求而设计,开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。

    ST-50A型冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口和标准样板图对比,以确定被测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。
       ST-50A型冲击试样缺口投影仪是广大冶金﹑锅炉压力容器、车船﹑工程机械以及科研等部门理化实验室的必备专用设备。同时,本仪器还可以用于机械零部件的外形轮廓,纺织物纤维,生物切片分析,工量刀具的检验,仪表元件和半导体元件的投影检测。


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