奥林巴斯探伤仪可更换延迟块探头V204-RM

奥林巴斯探伤仪可更换延迟块探头V204-RM

详细信息

品牌：奥林巴斯	型号：V204-RM	加工定制：是
类型：超声波	测量范围：根据所选探头	分辨率：根据所选探头
尺寸：根据所选探头 mm	重量：0.1 kg

奥林巴斯探伤仪可更换延迟块探头V204-RM
介绍

Olympus公司是一家专营光学、电子及精密工程产品，涉及工业、医
疗及消费市场的跨国公司。Olympus生产的仪器有助于保证产品质
量，提高基础设施及设备的安全性。

Olympus NDT公司是全球领先的生产创新型无损检测和测量仪器
的企业。其生产的仪器应用于包括航空航天、电力、石油化工、民用
基础设施、汽车以及消费产品在内的各种工业和研究领域。其掌握
的前沿检测技术包括超声、超声相控阵、涡流、涡流阵列、显微镜
检查、光学计量，以及X光荧光分析。其生产的产品包括探伤仪、测
厚仪、工业NDT系统及扫查器、视频镜、管道镜、高速视频摄像机、
显微镜、便携式X光分析仪、探头及各种辅助设备。

Olympus NDT公司的总部设在美国马萨诸塞州的沃尔瑟姆，并在
世界范围内的各大主要工业地区都设有销售和服务中心。

Panametrics超声探头
我们提供的各种频率、晶片直径及连接器类型的Panametrics超
声探头有5000种以上。拥有40多年探头研制经验的Olympus
NDT已经开发了用于缺陷探测、焊缝检测、厚度测量及材料分
析等特殊应用的各种各样的定制探头

可更换延迟块探头
• 每个探头的配置都带有一个标准延迟块和一个固定环。
• 备有高温延迟块和干耦合延迟块。
• 探头及延迟块端部之间需要耦合剂。

优势
• 强阻尼探头加上延迟块可以提供极佳的近场分辨率。
• 较高的探头频率提高了分辨率。
• 直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，适用于曲面工件。

应用
• 精确测厚。
• 垂直声束缺陷探测。
• 对接触区域有限的工件进行检测。

奥林巴斯探伤仪测厚仪可更换延迟块探头

选购型号:

频率	标称晶片尺寸		探头工件编号
MHz	英寸	毫米	探头工件编号
2.25	0.25	6	V204-RM
5	0.50	13	V206-RM
5	0.25	6	V201-RM
10	0.25	6	V202-RM
10	0.125	3	V203-RM
15	0.25	6	V205-RM
20	0.125	3	V208-RM

可更换延迟块探头选项

标准晶片尺寸		标称延迟块	高温			干耦合延迟块	备用固定环	带有弹簧的支架
标准晶片尺寸			*高175°C (350°F)	*高260°C (500°F)	*高480°C (900°F)
英寸	毫米		*高175°C (350°F)	*高260°C (500°F)	*高480°C (900°F)
0.50	13	DLH-2	DLHT-201	DLHT-2	DLHT-2G	DLS-2	DRR-2	2130
0.25	6	DLH-1	DLHT-101	DLHT-1	DLHT-1G	DLS-1	DRR-1	2127&DRR-1H
0.125	3	DLH-3	DLHT-301	DLHT-3	DLHT-3G	DLS-3	DRR-3	2133&DRR-3H

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