• 等离子体发射光谱测量系统

    详细信息

    等离子体发射光谱测量系统的特点:
    ● 该系统用于测量等离子体发射光谱测量,采用模块化设计
    ● 采用光纤导光或空间光耦合
    ● 可精确定位测量空间位置(选配功能)
    ● 测量光谱范围:200-2500nm或1μm-14μm
    ● 光谱分辨率:优于0.05nm(@1200g/mm光栅)
    ● 波长准确度:优于±0.2nm
    ● 波长重复性:优于±0.1nm
    ● 光谱仪控制软件包含滤光片轮自动控制功能、光谱曲线绘制功能、全自动测量、
    数据运算、保存及打印等功能
     

    OmniES-Blackbody 黑体辐射源光谱测量系统
    ● 该系统用于测量黑体辐射源的相对光谱或绝对光谱辐射度曲线,采用模块化设计
    ● 采用光纤导光或空间光耦合
    ● 测量光谱范围:200-2500nm或1μm-14μm
    ● 光谱分辨率:优于0.05nm(@1200g/mm光栅)
    ● 波长准确度:优于±0.2nm
    ● 波长重复性:优于±0.1nm
    ● 光谱仪控制软件包含滤光片轮自动控制功能、光谱曲线绘制功能、全自动测量、
    数据运算、保存及打印等功能

    OmniES-Laser 激光光源光谱测量系统
    ● 该系统用于测量激光光源的光谱曲线,采用模块化设计
    ● 采用光纤导光、空间光耦合或积分球耦合
    ● 测量光谱范围:200-2500nm或1μm-14μm
    ● 光谱分辨率:优于0.05nm(@1200g/mm光栅)
    ● 波长准确度:优于±0.2nm
    ● 波长重复性:优于±0.1nm
    ● 光谱仪控制软件包含、光谱曲线绘制功能、全自动测量、自动峰值显示、自动光
    谱带宽显示、保存及打印等功能

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