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| 产品名称:叶面积指数仪，叶面积指数分析仪,冠层分析仪
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| 上海鑫态国际贸易有限公司 |
| 产品型号： |
A-LP80
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| 原产地： |
美国
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叶面积指数仪是通过菜单操作的线性光合有效辐射测量仪，用于测量植物冠层中光线的拦截，它能快速实时测量有效光合辐射PAR值，同时计算冠层的叶面积指数LAI值。
详细资料
整套是由数据采集器和探杆两部分组成。探杆上包括80个独立的传感器，间隔1cm ，测量400～700nm波段内的有效光合辐射强度，单位是µmol m-2s-1。
仪器还包括一个外置的PAR传感器，可同时测量上、下冠层的PAR值。仪器通过面板上直观的6键进行操作，具有较大的内存容量，对电量消耗小。
显示：主机A-LP80数字式显示测试结果
操作环境：0°-50° C ；100%相对湿度
探杆长度：86.5 cm
传感器数量：80个
仪器总长度：102 cm
探杆规格：19cm x 9.5cm
数据采集器规格：15.8 x 9.5 x 3.3cm
PAR测量范围：0到 >2,500μmol m-2s-1
分辨率：1μmol m-2s-1
数据存储容量：1MB
自动采集间隔：可选1-60分钟
数据传输： RS-232缆线
产地：美国
键盘：6键驱动
电源：4节5号碱性电池
仪器重量：1.21kg
产地：美国
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