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| 产品名称:SunScan 冠层分析系统,叶面积指数仪，叶面积指数分析仪
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、 用途：
通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）；SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
二、 原理：
根据冠层吸收的Beer法则（Beer’s law for canopy absorption）、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
三、 参数：
1、 探测器工作区域：1000x13mm宽，传感器间距15.6mm
2、 探测器光谱响应：400-700nm (PAR)；
3、 探测器测量时间：120ms；
4、 探测器分辨率：0.3μmol. m-2.s-1；
5、 探测器最大读数：2500μmol.m-2.s-1
6、 操作温度：0 - 60 °C；
7、 BF3电缆长度：标准为7米，可扩展到100米；
8、 BF3无线连接方式；
9、 内存：2M内存，包含程序；1600K RAM 可用于储存数据；
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