• 德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚仪X-RAY XDL210/220/230/240

    详细信息

     品牌:德国菲希尔  加工定制:否  型号:X-RAY XDL210/220/230/240  
     类型:激光  测量范围:0.0001-3 mm 显示方式:数字  
     电源电压:9 V 外形尺寸:570×760×650 mm  
    德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪

    FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240
    X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用自动方
    式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层
    及大规模生产的零部件上的镀层。

     


    简介
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及
    材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自
    动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
    XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

    典型的应用领域有:
    • 测量大规模生产的电镀部件
    • 测量超薄镀层,例如:装饰铬
    • 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
    • 全自动测量,如测量印刷线路板
    • 分析电镀溶液

    XDL 240 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。
    比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。
    由于采用了 FISCHER 完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样
    品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
    设计理念
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的 X-
    Y 工作台,当测量门打开时,工作台会自动移到放置样品的位置;马达驱动的 Z 轴系
    统,可编程运行。
    高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频
    窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测
    量位置。
    测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测
    量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。
    带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精确调
    整。
    所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能
    强大而界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。
    XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合
    德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

     


    德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪

    通用 规格
    设计用途 能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液
    分析。
    元素范围 从元素 氯(17) 到 铀(92)
    配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时,*多可同时测定 24 种元素
    设计理念 台式仪器,测量门向上开启
    测量方向 由上往下
    X  射线源
    X 射线管  带铍窗口的钨管
    高压 三档: 30 kV,40 kV,50 kV
    孔径(准直器) Ø 0.3 mm 可选:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;长方形 0.3 mm x 0.05 mm
    测量点尺寸 取决于测量距离及使用的准直器大小,
    实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
    *小的测量点大小约 Ø 0.2mm
    X  射线探测
    X 射线接收器
    测量距离
    比例接收器
    0 ~ 80 mm,使用专利保护的 DCM 测量距离补偿法
    样品定位
    视频系统
    高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置
    手动聚焦,对被测位置进行监控
    十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)
    可调节亮度的LED照明,激光光点用于精确定位样品
    放大倍数 40x – 160x
    电气参数
    电源要求 220 V ,50 Hz
    功率 *大 120 W (不包括计算机)
    保护等级 IP40
    尺寸规格
    外部尺寸 宽×深×高[mm]:570×760×650
    内部测量室尺寸 宽×深×高[mm]:460×495x(参考“样品*大高度”部分的说明)
    重量 120 kg
    环境要求
    使用时温度 10°C – 40°C
    存储或运输时温度 0°C – 50°C
    空气相对湿度 ≤ 95 %,无结露
    工作台
    设计 马达驱动,可编程 X/Y 平台
    255 x 235 mm
    ≤ 80 mm/s
    ≤ 0.01 mm 单向
    300 x 350 mm
    马达驱动,可编程运行
    140 mm
    5 kg,降低精度可达 20kg
    140 mm

    X/Y 平台*大移动范围
    X/Y 平台移动速度
    X/Y 平台移动重复精度
    可用样品放置区域
    Z 轴
    Z 轴移动范围
    样品*大重量
    样品*大高度
    激光(1 级)定位点
    计算单元
    计算机 带扩展卡的 Windows ® 计算机系统
    软件 标准: WinFTM ® V.6 LIGHT
    可选: WinFTM ® V.6 BASIC,PDM,SUPER
    执行标准
    CE 合格标准  EN 61010
    型式许可 作为受完全保护的仪器
    型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

    德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
    订货号
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL240  604-498
    如有特殊要求,可与 FISCHER 磋商,定制特殊的 XDL 型号。
    FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen – Germany 的注册商标。
    Windows ® 是 Microsoft Corporation 在美国及其他地区的注册商标。

     
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