• Itrax芯体密度与元素分析系统

    详细信息

         剖面沉积物元素分析仪结合了X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence)和数字X-射线成像(digital x-ray micro radiography)技术,用于沉积物样柱(样芯)的非接触式测量,可用于土壤剖面、土芯、海洋或湖底的沉积物、岩石、洞穴堆积物(如钟乳石),泥炭块、岩芯等的密度和元素分析。可测量的元素有AlSiSClKCaCrMnFeCuZnAsHgPb等,其中许多可测至痕量水平以下,对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。

     

    原理:

    剖面沉积物元素分析仪采用XRF和数字X-射线成像技术,非破坏性测量,获得样品高分辨率的数码图像然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。

     

    应用:

         测量土壤剖面、土芯、海洋或湖底沉积物、岩石、洞穴堆积物(如钟乳石),泥炭块、岩芯等的密度

         用于土壤剖面、土芯、海洋湖底沉积物、岩石、洞穴堆积物(如钟乳石),泥炭块、岩芯等的元素分析

         可分析AlSiSKCaCrMnFeCuZnAsHgPb等多种元素,许多可测至痕量水平以下;

         测得多种元素的密度曲线;

         可同时监测几种元素;

         可应用于环境污染调查、环境修复、地质勘探、海洋研究、海洋沉积与古环境、湖泊沉积与环境、古气候学、过去全球变化等领域

    系统特点:

          结合XRF和数字X-射线成像技术

          提供Al以上的多种元素的浓度数据(Al – U),可实现多种元素的同时检测

          XRF灵敏度达PPM

          X射线数字成像用于样品的高级分析

          10分钟即可完成1样品的扫描分析

          可测量180cm的样品

          可测量长条形,厚板状、U形、圆盘形及生长锥样品、洞穴堆积物等。

          稳定,可靠,重现性好,灵敏度和精确度高

          非接触式分析,不破坏样品

          可超负荷工作,每年可工作几千小时

     

    系统组成:

    X-射线发生器,显像管,扁平X光束光学系统,X光束调节器,样品台,样品槽,样品适配器,X-射线检测器,SDD硅漂移检测器,成像单元,冷却装置,两台计算机,软件,电源保护系统

     

    测量参数:

    测量土壤剖面、土芯、海洋或湖底沉积物、岩石、洞穴堆积物(如钟乳石),泥炭块、岩芯等的密度

    样品中AlSiSKCaCrMnFeCuZnAsHgPb等多种元素的含量;

    样品中多种元素的密度曲线;

     

    应用案例:

    英国海洋中心和南安普顿大学地球化学领域科研人员,将剖面沉积物元素分析仪应用于东部地中海沉积泥的研究分析。

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