扫一扫，手机浏览- 德国蔡司GeminiSEM系列场发射扫描电子显微镜
详细信息
品牌：蔡司 型号：GeminiSEM 加工定制：否 类型：电子 目镜放大倍数：X 物镜放大倍数：X 仪器放大倍数：X 重量：X g 适用范围：电子敏感材料或磁性材料等 装箱数：1 德国蔡司GeminiSEM系列场发射扫描电子显微镜——高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜
德国蔡司GeminiSEM系列场发射扫描电子显微镜介绍
Gemini 光学元件，低电压，可变压力
GeminiSEM 系列产品成像方便：即使在变换的压力模式下，亦能获得亚纳米分辨率和高检测效率。GeminiSEM 500 将电子光学设计与 Gemini 技术相结合，特别在低电压模式下也能获得较好的分辨率。以20倍高的 in-lens 检测信号，可以快速获得锐利的图像并将对样品的损伤降至尽可能低。多种可变的压力模式使您如在高真空环境中工作一样。
为您的科研、工业实验室或者成像中心增加这样一台灵活可靠的场发射扫描电子显微镜，您将从任何样品中获得出色的成像。
德国蔡司场发射扫描电子显微镜GeminiSEM系列特点
1、低电压下获取更丰富的细节信息
在低电压下获取高分辨率和高对比度的纳米级细节信息。
在500V 电压下能够获取1.2纳米，在1KV下能够获取1.1纳米的分辨率。或者采用可选配的样品台减速模式，在1KV下能获取0.9 nm的分辨率。
您将从优质的图像质量中获益，创新的 Gemini 技术让您缩短成像时间。
2、获取更多的信号
GeminiSEM 500 拥有新设计的镜头，大大提高了检测效率。in-lens 的信号相比较传统的扫描电子显微镜提升了20倍。
通过合适的电子器件的检测提高效率和获取更多的样品信息。
缩短成像时间或者在低电流下工作减少对样品的损伤。
3、可变压力下实现更多的灵活性
在可变压力模式下工作亦像在高真空模式下工作一样。
在可变压力模式下首次使用 in-lens 探测器，获取高分辨率、高对比度和信噪比的图像。
即使样品要求苛刻，亦能获得锐利的图像。
德国蔡司GeminiSEM系列场发射扫描电子显微镜Gemini光学元件
基于成熟的 Gemini 技术
Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的*大化影响，并将场对样品的影响降至尽可能的低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。
Gemini in-lens 探测器确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。
Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。
更多细节信息，更多信号
GeminiSEM 500 拥有创新的电子元件：新型设计的纳米双镜头提高了低电压下的分辨率。
in-lens 探测器信号在低电压成像条件下提高了20倍。轻松快速获得锐利的图像并将对样品的损伤降至尽可能的小。
高分辨率从电子枪模式将色差更小化，并且可使用较小尺寸的探测器。
GeminiSEM 300
GeminiSEM 300具有出色的成像质量和极快的成像速度，是您大视野成像的合适之选。受益于Gemini镜筒可进行高效的信号探测，超高分辨力、无变形的大面积成像。
新颖的电子光学设计具有优秀低电压成像性能，如电子敏感材料或磁性材料此类比较棘手的样品。全面表征样品特性：使用能量选择背散射检测器可获取出色的低电压材料衬度像。NanoVP模式：在低真空下，可使用对样品表面细节敏感的Inlens探测器对非导电性样品进行高分辨成像。
德国蔡司GeminiSEM系列场发射扫描电子显微镜可变压力
更多细节信息，更大灵活性
在无损样品上减少样品带电。
纳米可变压力技术减少了电子束演变并且获得高分辨率成像，以及 in-lens 探测能高达150 Pa。in-lens 二次检测和背散射探测器在可变压力模式下可同时使用，生成高分辨率和高衬度的图像。
在使用可变压力二次检测探测器检测要求苛刻的样品时，压力可提升至500 Pa。
德国蔡司场发射扫描电子显微镜GeminiSEM系列可视化及分析软件
蔡司Atlas 5-挑战多尺度分析
Atlas 5可以简化您的生活：以样本为中心的关联环境下为您创建多尺度、多模式的综合图片。Atlas 5集强大的硬件和易于操作的软件为一体，大大拓展了蔡司扫描电镜（SEM）的应用范围。
3D表面建模 – 3DSM
扫描电镜只能测量分析样品的2D信息。然而，使用3DSM可将扫描电镜的分析能力扩展至对3D数据的分析。由蔡司设计研发的3DSM是以计算机为基础的应用软件，它基于扫描电镜的AsB探测所的信号对样品表面的三维结构进行重构。
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德国蔡司GeminiSEM系列场发射扫描电子显微镜
产业带货源页面价格仅供参考，具体请联系报价价格 价格电议,您可以向供应商询价得到该产品价格- 产品型号：GeminiSEM
- 品 牌：蔡司
- 所 在 地：上海
- 更新日期：2024-04-24
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