| | 品牌：Duma | | 型号：LAM Beam Analyzer, | | 加工定制：否 | |
| | 测量范围：1 | | 测量精度：1 ° | | 外形尺寸：1 mm | |
| | 用途：1 | | 长度：1 mm | | 工作温度：1 ℃ | |
| | 重量：1 ㎏ | | 装箱数：1 | | 外型尺寸：40 mm dia. × 31 mm length | |
| | 通光孔径： 8 × 8 mm | | 光谱范围：250-2000nm | | 刀口数：7 | |
| | 工作距离：49mm | | | | | |
我司为用户提供两种系列光束质量分析仪，LAM和M2-Beam，其中LAM可用于检测工作面上的
聚焦激光，其检测原理为刀口式测量原理，仅可检测连续激光（CW），M2-Beam的普通型号同样采取刀口式测量原理。当然，为了满足用户对于脉冲激光（Pulsed）的检测需求，我们也提供CMOS传感器版本（-U3型号）。
以上机型均可安装风冷采样器，SAM-HP-M。需要注意的是，在测量大功率激光时，连续曝光时间不能超过5s。并且高功率机型出厂后，风冷采样器处于已装配状态，原则上讲我们不提倡用户将其拆卸，因为其中涉及到接收对准和安装工艺问题，这会导致拆卸后无法安装的问题存在，基于更小的灵敏度，仪器哪怕装载了风冷采样器，对于小功率激光仍具备一定的探测能力。
大功率光束分析仪的核心部件——风冷采样器规格参数：
| 型号 |
SAM3-HP |
| 光谱范围 |
250-2000nm |
| 采样系数 |
1.1×10-5 |
| 外型尺寸 |
40 mm dia. × 31 mm length |
| 通光孔径 |
8 × 8 mm |
| 从输入到采样表面的*小光路 |
25mm（视具体型号而定） |
LAM大功率激光光束质量分析仪产品规格参数：
| |
LAM-BA |
LAM-U3 |
| 传感器类型 |
硅基，使用刀口法测量技术 |
CMOS |
| 刀口数 |
7 |
- |
| 光谱范围： |
硅：350-1100nm |
350-1310nm |
| 功率范围@900/1070 nm |
*高4KW（需要衰减片和高压空气风冷，可能会有一些限制） |
连续激光1-2500W，脉冲激光1-1000W |
| 光斑尺寸范围 |
35微米至8毫米 |
75微米-6毫米 |
| 分辨率（H × V像素） |
根据光束大小自适应 |
1920 ×1200 |
| 传感器有效尺寸 |
9 × 9 |
11.34 × 7.13 |
| 工作距离 |
49mm |
从输入表面到传感器的光学距离为40.7±0.2毫米 |
| *高BPP |
*大输入角度-25deg |
*大输入角度-25deg |
| *大功率密度 |
1,000,000 W/cm2 |
1,000,000 W/cm2 |
| 光束宽度精度 |
± 1.5 ％ |
± 1.5 ％ |
| 功率精度 |
± 5 ％ |
± 5 ％ |
| 工作温度 |
0℃-35℃ |
0℃-35℃ |
M2-Beam 大功率光束分析仪产品规格：
-输入光束
| |
M2Beam |
M2Beam U3 |
| 技术工艺 |
刀口式扫描原理，应用Si探测器，InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器 |
USB 3.0接口
CMOS 2.4MP
内置过滤论 |
| 光谱响应（nm） |
SI传感器：350-1100
InGaAs传感器：800-1800
Enhanced InGaAs 传感器：800-2700 |
VIS-NIR：350-1600
UV-NIR：220-1350 |
| 激光功率范围 |
Si：100 μW-1 W（带衰减片）
InGaAs&UV：100 μW-5 mW
HP：4 kW以下 |
10μW-100mW，内置滤光轮
HP：4 kW以下 |
| 刀口数 |
7 |
— |
| 光束尺寸 |
带透镜高达25mm直径（Si&UV版本） |
| 束腰到透镜距离 |
2.0~2.5米*佳
*小2米 |
-扫描装配附件
| 材质 |
铝 |
| 透镜焦距 |
300mm（在632.6nm时） |
| 透镜直径 |
25mm |
| 扫描次数 |
140 |
| *小步进尺寸 |
100μm |
| 扫描长度 |
280mm |
-整机
| 重量 |
2.5kg |
| 尺寸 |
100×173×415 mm |
| 托架 |
M6或1/4“固定 |
| 机械调整 |
水平角：±1.5°
垂直角：±1.5° |
| 电缆长度 |
2.5m |
高功率光束分析仪订购型号及描述：
LAM-BA: 7-blades, Si detector with high power attenuator and mounting adapter
LAM-U3: A camera for 350 –1310 nm with motorized built-in filter wheel with high power attenuator and mounting adaptor, a set of interchangeable filters,
M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)
M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)
M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)
M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based
M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.
SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams
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