镀层厚度分析仪ＰＣＢ电镀镀层测厚仪金铜镍锌银镀层测试仪
详细信息
| | 品牌：ACZT安捷特 | | 型号：CUBE-X | | 层数：单面 | |
| | 基材：铝 | | | | | |
X射线荧光分析测厚仪能提供：镀层厚度和元素分析功能,不但性能优越,而且价格优惠。分析镀层厚度和元素成份同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选。
Cube系列可测量各类金属、合金单层及多层的镀层厚度、电镀液中金属离子的含量和合金元素成份及含量。
二、【ACZET系列特点：】
ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。
三、【ACZET系列优势：】
- 操作简单，只需要很少的培训就可以操作
- 检测速度快，无损检测只需几秒钟
- 可测试单层及多层镀层的厚度
- 可以测试电镀液中金属离子含量
- 对测试样品完全无损
- 市场上*高性价比
- 自动化批量检测：可选配XYZ全自动工作台
- 应用行业广泛：电子，珠宝，金属加工等等
四、【ACZET系列操作软件：】
X-Master是一款具备庞大应用功能的软件，并且我们更多新的应用正不断地加入更多新的应用。
可选软件模块
- µ-Master 用于镀层厚度测量
- Element-Master 用于材料分析
- Report-Master 用于生成报告文件
- Data-Master 用于数据库管理
- %-Master 用于材料分析（珠宝）
- Liquid-Master 用于电镀液分析
Cube系列技术特点
一、功能
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
- 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
- 镀层层数：多至5层。
- 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。
- 测量时间：通常35秒-180秒。
- 样品*大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。
- 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。
- 可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。
- 同时定量测量8个元素。
- 定性鉴定材料达20个元素。
- 自动测量功能：编程测量，自定测量；修正测量功能：底材修正，已知样品修正
定性分析功能：光谱表示，光谱比较；定量分析功能：合金成份分析
数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。
二、特点
采用基本参数法校准，可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。
X射线采用从上至下的照射方式，即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之，如果是从下至上的照射方式，遇到表面凹凸的样品，无法调整Z轴距离，导致测量光程的变化，引起测量的误差。
具有多种测试功能，仅需要一台仪器，即可解决多种测试
相比其他分析设备，投入成本低
仪器操作简单，便可获得很好的准确性和重现性
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析
镀层分析:可分析四层以上厚度,独有的FP分析软件,真正做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
三、技术参数
Item
项目 |
Part & Ref Number
部件号 |
Commodity & Description
货物及描述 |
| 1 |
Cube X射线镀层测厚仪 |
- X射线光管 微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm
- 高电压 50千伏（1.2毫安）可根据软件控制优化
- 探测器 高分辨气体正比计数探测器
- 准直器 单一固定准直器直径0.3mm
- 样品仓 330 x 200 x 170 mm
- 样品台 手动Z轴样品台
- 电源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W
- 仪器尺寸 350 x 420 x 310 mm
- 仪器重量 27Kg
- Windows 10操作系统和计算机主机
- 19寸液晶显示器
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