CLJ-E301华宇全半导体激光尘埃粒子计数器

CLJ-E301华宇全半导体激光尘埃粒子计数器
CLJ-E301全半导体激光尘埃粒子计数器满足国家计量总局颁布的JJF1190-2008检定规程的要求，整机功能采用进口微电脑控制处理技术，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。
CLJ-E301全半导体激光尘埃粒子计数器适用范围：
该系列产品已被广泛应用于洁净室检测；过滤器现场检测、捡漏；可监测超净工作台、HVAC系统，计算机室，*生产环境，医院洁净手术室，汽车喷涂、制药、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范及电子生产企业的首选仪器。该系列仪器性能设计先进、质量稳定可靠.
CLJ-E301全半导体激光尘埃粒子计数器技术指标：
1.光源：全半导体激光光源
2.采样量： 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.检测范围：100级～100万级/同时符合新版GMP标准的A/B/C/D四个级别静态和动态标准的测量 /四种标准切换测量
允许被测试空气的含尘浓度≯10 万颗/2.83L
4.粒径通道：
标准粒径： 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六档，如有其它粒径要求可定制。
5.六档粒径尘埃粒子同时检测，显示方式分为四种：
(1)实时显示： 实时显示当前检测粒径中某一粒径的实时数据.
(2)选显：选择显示上一周期某一粒径的累计值.
(3)程显： 依次显示当前检测中各粒径的实时数据.
(4)依次选显：依次显示上一周期各粒径的累计值.
6.显示或打印可将2.83升/分(0.1Ft³)内所含颗粒转换成28.3升/分(1Ft³)或1m³所含颗粒数。
7.采样周期：1～10 (min) 净时间：＜15 min  
8.工作环境：温度：10～35℃   相对温度：     20～75%RH
9.测量温度和湿度的范围与精度：选购   （1）温度：0～50℃±1℃.（2）湿度：0～100%RH±5%
10.采样点数（A）2～7点设定 每点采样次数（L）2～9次设定
11. UCL报表：符合ISO14644-1、GB50073-2001的标准
12.工作时间：8 小时   电 源： AC220V±10%    50±2Hz     *大功耗：20W
(1)内置长效锂电池：可长时间连续测量工作8小时以上,外置充电器可快速充满(<4小时) 充电器供电为110V～220V,50/60Hz
13.数据存储：可存储1000组数据(包括粒径、数据、环境数据、年、月、日、时间)，断电后数据不丢失。并可随时查看和打印数据。
14.报警设置：仪器带级别报警功能，可对洁净室100级，1000级，10000级，100000级，300000级超标后报警
15.备注：内置打印机,自动判断净化等级,等动力采样头,采样架(温湿度探头为选购件)
16.校准：JJF-1190-2008尘埃粒子计数器计量校准规范及GB/T6167-2007，ISO 21501-4：2018（E）洁净室光散射尘埃粒子计数器校准方法。我公司已通过国家计量建标考核，可追溯至上海计量测量技术研究院也可自行进行校准或第三方国家计量机构进行校准，也可追溯美国国家标准技术协会（NIST）
17.重量：2.5kg 
18.外形尺寸：200×110×280mm
CLJ-E301全半导体激光尘埃粒子计数器相关产品：
CLJ-E3016一款交直流两用半导体激光型的, 可与PC电脑数据采集系统连接可进行远程控制，可直接观测仪器的测试情况，测试数据可通过电脑进行分析处理并可以保存为Excel文件。

主营产品：爱华声级计、噪声统计分析仪、声学振动测试分析仪、铁损测量仪、高斯计、磁通计，激光对中仪，金相磨抛机等全系列金相试验设备，无损检测设备（硬度计、涂层测厚仪、超声波测厚仪、粗糙度仪），漆包线检测设备、激光测径仪、盐雾试验箱、高低温试验箱、工业内窥镜、尘埃粒子计数器等。