CLJ-D型华宇半导体激光尘埃粒子计数器

CLJ-D型华宇半导体激光尘埃粒子计数器
宁波CLJ-D型半导体激光尘埃粒子计数器满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求，整机功能采用进口微电脑控制处理技术及国际上先进的SMT芯片贴片封装技术和半导体激光传感器技术及防噪声气泵，具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。该系列仪器性能设计先进、质量稳定可靠。
CLJ-D型半导体激光尘埃粒子计数器结构原理：
CLJ-D型尘埃粒子计数器是按照微粒的光散射原理设计而成的。运动的微粒通过光束时产生光脉冲，光的强度与粒子的大小成比例。本仪器利用几组光学透镜把光束聚焦，并把焦点投影到传感器的散射腔体的中心位置形成一个微小光敏区，空气中的尘埃粒子随采样气流穿过光敏感区时，产生散射光，形成光脉冲。光脉冲投影到光电倍增管上，光电倍增管将其转换成相应的电脉冲信号。此信号经放大处理后，送入不敷出六路甄别器甄别分档，然后送入电脑进行计数处理，并显示测试结果，其结果也可打印。
CLJ-D型半导体激光尘埃粒子计数器技术指标：
1.光源: 全半导体 激光光源
2.采样量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.检测范围: 100级～100万级  
4.允许被测试空气的含尘浓度≯10 万颗/2.83L
5.粒径通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六档
6.显示或打印可将2.83升/分内所含颗粒转换成1m³所含颗粒数。
7.采样周期: 1～10 (min)
8.自净时间: ≤15 (min)
9.校准：可追溯美国国家标准技术协会（NIST），我公司已通过国家计量建标考核，可追溯至上海计量测量技术研究院可自行进行校准或第三方国家计量机构进行校准
10.工作环境: 温度:10～35℃    相对温度: 20～75%RH
11.蕞大功耗: 25W
12.测量温度和湿度的范围与精度：（选购）
（1）温度：0～50℃±1℃
（2） 湿度：0～100%RH±5%
13.采样点数：2～9点设定
14.每点采样次数：3～5次设定
15.UCL报表：符合FS-209E、中国GMP的标准
16.工作时间：8 小时
17.电源：AC220V±10%    50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六档粒径尘埃浓度同时检测，依次数字显示或自选粒径显示。
21.备注: 内置打印机、自动判断净化等级、等动力采样头、采样架
CLJ-D型半导体激光尘埃粒子计数器适用领域：
该系列产品已被广泛应用于洁净室检测；过滤器现场检测、检漏；可监测超净工作台、生物安全柜，HVAC系统，计算机室、饮料包装环境，*生产环境，医院洁净手术室，汽车喷涂环境微电子、制药、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范及电子生产企业的首选仪器。

主营产品：爱华声级计、噪声统计分析仪、声学振动测试分析仪、铁损测量仪、高斯计、磁通计，激光对中仪，金相磨抛机等全系列金相试验设备，无损检测设备（硬度计、涂层测厚仪、超声波测厚仪、粗糙度仪），漆包线检测设备、激光测径仪、盐雾试验箱、高低温试验箱、工业内窥镜、尘埃粒子计数器等。