• 绝缘导热硅胶薄膜介电常数及介质损耗测定仪QH8800群弘仪器

    详细信息

     品牌:群弘仪器  型号:QH8800  加工定制:否  
     外形尺寸:225*220*42 mm 重量:6 ㎏ 用途:测量绝缘材料的介电常数和介质损  
    高频绝缘材料电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。
     介电常数/介质损耗测试系统系统组成:
    1. 主机:高频Q表
    功能名称: 8600 8700 8800
    信号源范围DDS数字合成信号 10KHZ-70MHz 10KHZ-110MHz
     
    100KHZ-160MHz
    信号源频率覆盖比 7000:1 11000:1 16000:1
    信号源频率精度 6位有效数 3×10-5 ±1个字   3×10-5 ±1个字    3×10-5 ±1个字   
    Q测量范围 1-1000自动/手动量程 1-1000自动/手动量程 1-1000自动/手动量程
    Q分辨率 4位有效数,分辨率0.1 4位有效数,分辨率0.1 4位有效数,分辨率0.1
    Q测量工作误差 <5% <5% <5%
    电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH 1nH-8.4H  分辨率0.1nH 1nH-140mH分辨率0.1nH
    电感测量误差 <5% <5% <5%
    调谐电容 主电容30-540pF 主电容30-540pF 主电容17-240pF
    电容直接测量范围 1pF2.5uF 1pF2.5uF 1pF25nF
    调谐电容误差
    分辨率
    ±1 pF<1%
    0.1pF
    ±1 pF<1%
    0.1pF
    ±1 pF<1%
    0.1pF
    谐振点搜索 自动扫描 自动扫描 自动扫描
    Q合格预置范围  5-1000声光提示 5-1000声光提示 5-1000声光提示
    Q量程切换 自动/手动 自动/手动 自动/手动
    LCD显示参数 FLCQLtCt波段等 FLCQLtCt波段等 FLCQLtCt波段等
    自身残余电感和测试引线电感的
    自动扣除功能(独创)
    大电容值直接测量显示功能(独创) 测量值可达2.5uF 测量值可达2.5uF 测量值可达25nF
    介质损耗系数 精度 万分之一 精度 万分之一 精度 万分之一
    介电常数 精度 千分之一 精度 千分之一 精度 千分之一
    材料测试厚度 0.1mm-10mm 0.1mm-10mm 0.1mm-10mm
     
    1. S916(数显)或S914介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
    固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一)  
    液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)
    1. LKI-1电感组
    电感No 电感量 准确度% Q值≥ 分布电容约略值 谐振频率范围 MHz 适合介电常数测试频率
       
    1 0.1μH ±0.05μH 200 5pF 20~70 31~103 50MHz
    2 0.5μH ±0.05μH 200 5pF 10~37 14.8~46.6 15MHz
    3 2.5μH ±5% 200 5pF 4.6~17.4 6.8~21.4 10MHz
    4 10μH ±5% 200 6pF 2.3~8.6 3.4~10.55 5MHz
    5 50μH ±5% 200 6pF 1~3.75 1.5~4.55 1.5MHz
    6 100μH ±5% 200 6pF 0.75~2.64 1.06~3.20 1MHz
    7 1mH ±5% 150 8pF 0.23~0.84 0.34~1.02 0.5MHz
    8 5mH ±5% 130 8pF 0.1~0.33 0.148~0.39 0.25MHz
    9 10mH ±5% 90 8pF 0.072~0.26 0.107~0.32 0.1MHz
    注意: 可定制100MHz电感.
     
     高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:
    1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC 等
     
     绝缘导热硅胶薄膜介电常数及介质损耗测定仪
     
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